ME-L是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業前沿的創新技術，包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制、穆勒矩陣數據分析等。可應用于半導體薄膜結構，半導體周期性納米結構，新材料，新物理現象研究，平板顯示，光伏太陽能，功能性涂料，生物和化學工程，塊狀材料分析以及各種各向同性/異性薄膜材料膜厚、光學納米光柵常數以及一維/二維納米光柵材料結構的表

產品簡介：DSA-X光學接觸角測量儀配置高分辨率的高速工業相機搭配LED冷光源，獲得高清圖像并通過全新優化的軟件進行計算擬合從而獲得準確的測試數據。儀器機構結合了人體工程學，提供人性化的自動化進樣調節、樣品臺調節、光學系統調節等，使測試變得精確而快速高效。

為滿足現場快速檢測多元化的需求，因此Finder lnsight系列增加了一款革命性的產品，因其小巧便攜性，功能的多樣性，被人稱之為“百變小金剛”。

TF200薄膜厚度測量系統利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200薄膜厚度測量系統根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。

SGC-10薄膜測厚儀適用于介質，半導體，薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該薄膜測厚儀，是我公司與美國new-span公司合作研制的，采用new-span公司*的薄膜測厚技術，基于白光干涉的原理來測定薄膜的厚度和光學常數（折射率n，消光系數k）。

SSR-3000便攜式拉曼檢測儀采用工業級的防水、防塵、防震、防摔設計，適合各種惡劣環境下使用，可靠性、穩定性更高。設備自帶操作系統和人性化軟件交互界面，集成了*的智能解譜和光譜分析算法，*做到“一鍵操作”。SSR-3000便攜式拉曼檢測儀適用于：?珠寶玉石鑒定、文物鑒別；生物醫藥檢測、材料表征、地址勘探等；食品違禁添加物、色素添加、農獸藥殘留檢測；爆炸物、危險化工品、易燃易爆品檢測；